X射线能谱仪

仪器名称： X射线能谱仪
国别：美国
设备地点：材料工程学院中心实验室3116室
设备简介：

美国EDAX公司生产的GENESIS能谱仪由探测器、控制器（包括数据采集处理单元、电子束控制系统包等）、计算机工作站和输出设备组成。

 

技术参数：
分辨率：132eV
元素分析范围：5B~92U
峰漂移在100,000cps下小于2eV

峰背比优于20000:1

 

处理能力：最大输入计数率大于500,000cps，最大输出计数率大于100,000cps
应用范围：

主要用于各类样品的化学元素成分分析。可以获得样品中各种元素的含量和分布的信息。

 

联系人：严敏杰
电话：021-67791207