日本日立公司生产的S-3400N扫描电子显微镜带有VP模式（Variable Pressure），通过VP模式可直接观测不导电样品，独有的四偏压电子枪，配合大锥角物镜保证了低加速电压下的高分辨成像能力。该设备可用于材料显微组织观察、断口试样观察、材料失效分析等，且可利用EDAX能谱仪进行成分定性、半定量分析，可广泛地应用于材料、化工、生物、医学等领域。
二次电子像分辨率： 3nm at 30kV（高真空模式）
10nm at 3kV（高真空模式）
背散射电子像分辨率：4nm at 30kV（低真空模式）
放大倍率：5~300,000×
加速电压：0.3~30kV
电位移： ±50μm（工作距离为10mm时）
探测器： 二次电子探头
5分割背散射探头
最大样品尺寸：直径200mm
可变压力范围： 6-270Pa（低真空模式）
