扫描电子显微镜

发布者:系统管理员发布时间:2012-11-01浏览次数:2561

仪器名称: 扫描电子显微镜
型号:S3400-N
国别:日本

设备地点:材料工程学院中心实验室3118室

 

设备简介

日本日立公司生产的S-3400N扫描电子显微镜带有VP模式(Variable Pressure),通过VP模式可直接观测不导电样品,独有的四偏压电子枪,配合大锥角物镜保证了低加速电压下的高分辨成像能力。该设备可用于材料显微组织观察、断口试样观察、材料失效分析等,且可利用EDAX能谱仪进行成分定性、半定量分析,可广泛地应用于材料、化工、生物、医学等领域。

 

技术参数
分辨率:3nm
放大倍率:5~300,000×
加速电压:0.3~30KV
二次电子像分辨率:3nm at 30KV(高真空模式)
二次电子像分辨率:10nm at 3KV(高真空模式)
背散射电子像分辨率:4nm at 30KV(低真空模式)
应用范围

主要用于分析金属材料、陶瓷材料和高分子材料等的内部组织、成分及材料失效分析。

 

联系人:严敏杰
电话:021-67791207